Zuverlässigkeitserhöhung mit funktionalen Monitoren
Konferenz: Zuverlässigkeit und Entwurf - 1. GMM/GI/ITG-Fachtagung
26.03.2007 - 28.03.2007 in München
Tagungsband: Zuverlässigkeit und Entwurf
Seiten: 2Sprache: DeutschTyp: PDF
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Autoren:
Eveking, H.; Schickel, M.; Braun, M.; Nimbler, V. (Fachgebiet Rechnersysteme, Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik, Technische Universität Darmstadt)
Inhalt:
Die bei sinkenden Strukturgrößen zu erwartende Fehleranfälligkeit mikroelektronischer Komponenten verlangt Mechanismen zur Beseitigung funktionaler Fehler. Die Benutzung funktionaler Monitore zur Erhöhung der Zuverlässigkeit wird diskutiert. Funktionale Monitore werden aus Eigenschaften konstruiert, die während der Verifikation eines Systems zur Spezifikation seiner Funktionalität entwickelt werden.