Daten-Recycling in der EMV-Simulation
Konferenz: EMV 2006 - Internationale Fachmesse und Kongress für Elektromagnetische Verträglichkeit
07.03.2006 - 09.03.2006 in Düsseldorf, Germany
Tagungsband: EMV 2006
Seiten: 8Sprache: DeutschTyp: PDF
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Autoren:
Baganz, Natalie; Plettemeier, Dirk; Gonschorek, Karl-Heinz (Professur für Theoretische Elektrotechnik und Elektromagnetische Verträglichkeit, Technische Universität Dresden)
Inhalt:
Bei der numerischen Analyse elektromagnetischer Unverträglichkeiten ist der Einfluss verschiedener Systemgrößen zu untersuchen, was zu einer Vielzahl ähnlicher Berechnungen führt. Die hier präsentierte Idee zur Reduktion des Aufwandes besteht darin, innerhalb der Berechnung die Komplexität der Stromnachbildungsfunktionen auf Teilbereichen zu ändern.