Modulanalyse unter Einbindung von messtechnisch bestimmten Black Box Modellen

Konferenz: EMV 2006 - Internationale Fachmesse und Kongress für Elektromagnetische Verträglichkeit
07.03.2006 - 09.03.2006 in Düsseldorf, Germany

Tagungsband: EMV 2006

Seiten: 12Sprache: DeutschTyp: PDF

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Autoren:
Schubert, Göran (Conti-Temic, CC-Elektronik, Nürnberg)
Spang, Matthias (Friedrich-Alexander Universität, Lehrstuhl für Elektromagnetische Felder, Erlangen)

Inhalt:
Analyse durch Hinsehen beschränkt sich auf einfache Schaltungen. Deshalb wird der Sinn von Ersatzschaltbildern hinterfragt. Als Alternative wird vorgeschlagen, auf der Ebene der Übertragungsfunktionen mit Informationen über die Lage und Güte von Pol- und Nullstellen zu arbeiten. Dies erlaubt das Einbinden von Black-Box-Modell-Blöcken, die aus Messungen gewonnen werden. Dadurch generiert man zwangsläufig realitätsnahe Modelle. Ein Verfahren zur Gewinnung der Pol- und Nullstellen aus dem gemessenen Bode-Diagramm wird vorgestellt.