Bestimmung der Induktivität komplexer großer metallischer Strukturen mittels eines Reusenleiteraufbaus für die EMV-Analyse

Konferenz: EMV 2006 - Internationale Fachmesse und Kongress für Elektromagnetische Verträglichkeit
07.03.2006 - 09.03.2006 in Düsseldorf, Germany

Tagungsband: EMV 2006

Seiten: 8Sprache: DeutschTyp: PDF

Persönliche VDE-Mitglieder erhalten auf diesen Artikel 10% Rabatt

Autoren:
Rojas-Coto, J. Arnoldo; Haseborg, Jan Luiken ter (Institut für Messtechnik / EMV, Technische Universität Hamburg-Harburg)

Inhalt:
Die Bestimmung der inneren Induktivität von metallischen Strukturen ist für die EMV eine wichtige Aufgabe. Problematisch kann diese Induktivitätsbestimmung bei großen bzw. großflächigen Strukturen werden, z.B. bei Teilen von Gebäuden oder größeren Objekten. Die Bestimmung der Induktivität eines Leiters ist laut Definition mit der Lage des Rückleiters verbunden. Es bieten sich hier zunächst drei verschiedene Szenarien an: - die wirkliche Lage von Hin- und Rückleiter, wenn möglich, anzugeben, - die Lage des Rückleiters ins Unendliche gedanklich zu verlegen oder - einen spezifischen Messaufbau zu konzipieren, z.B. den Rückleiter konzentrisch um den Hinleiter anzuordnen.