Steigerung der Empfindlichkeit bei Nah-Feld-Messungen an Metallgehäusen
Konferenz: EMV 2006 - Internationale Fachmesse und Kongress für Elektromagnetische Verträglichkeit
07.03.2006 - 09.03.2006 in Düsseldorf, Germany
Tagungsband: EMV 2006
Seiten: 8Sprache: DeutschTyp: PDF
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Autoren:
Reiser, Peter (R & D Center Electronics, Karlsruhe)
Garbe, Heyno (Institut für Grundlagen der Elektrotechnik und Messtechnik, Universität Hannover)
Giselbrecht, Dietmar (IEH, Universität Karlsruhe)
Inhalt:
Die Einhaltung der gesetzlichen Abstrahlungsgrenzwerte z.B. nach EN 55011 für ISM Geräte oder CISPR 25 für Automobilkomponenten wird oft erst am Ende der Geräteentwicklung auf einem Freifeld oder in einer Absorberkammer überprüft. Dabei wird eine integrale Messung des gesamten Systems durchgeführt, wobei die Zuordnung auf lokale Schwachpunkte des Elektroniksystems in der Regel nicht möglich ist. Dafür kommen so genannte Schnüffelantennen zum Einsatz. Damit ist eine Ortung der Schwachstellen möglich. Außerdem bietet sich an, während der Entwicklungsphase gezielte EMV-Messungen und -Optimierungen durchzuführen. Dafür haben sich kleine Monopol- und Rahmenantennen etabliert. Aufgrund der unterschiedlichen Empfangscharakteristiken wird je nach Anwendung eine geeignete Sonde ausgewählt. Speziell bei der Qualifikation von Automobilkomponenten sind teilweise Empfindlichkeiten erforderlich, die mit den herkömmlichen Sensoren nicht erreicht werden, z.B. wenn sich ein Elektronikmodul direkt bei der Scheibenantenne befindet. Für den Fall, dass die Elektronik in einem metallischen Schirmgehäuse untergebracht ist, wird ein Sensor mit hoher Empfindlichkeit vorgestellt, der den bestehenden Satz der Nahfeldsonden ergänzt.