Gleichfeld oder Wechselfeld? – Messstrategien bei Monitorbeeinflussungen durch Straßenbahnen

Konferenz: EMV 2006 - Internationale Fachmesse und Kongress für Elektromagnetische Verträglichkeit
07.03.2006 - 09.03.2006 in Düsseldorf, Germany

Tagungsband: EMV 2006

Seiten: 8Sprache: DeutschTyp: PDF

Persönliche VDE-Mitglieder erhalten auf diesen Artikel 10% Rabatt

Autoren:
Zschau, Gerd; Gonschorek, Karl-Heinz (Technische Universität Dresden, Professur und Laboratorium für Theoretische Elektrotechnik und Elektromagnetische Verträglichkeit)

Inhalt:
Neben elektrifizierten Bahnstrecken und unsymmetrisch betriebenen Gebäudeeinspeisungen können auch Straßenbahnen Magnetfelder großer Amplitude generieren, die beispielsweise Computermonitore oder Elektronenstrahlmikroskope beeinflussen. Zum überwiegenden Teil werden Straßenbahnen in Deutschland mittels Gleichstrom versorgt. Bei den auftretenden Störphänomenen handelt es sich im ersten Ansatz um Gleichfeldbeeinflussungen. Der vorliegende Beitrag soll aus der Erfahrung der Autoren heraus übliche und unkonventionelle Messstrategien aufzeigen und beleuchten. Ein großes Problem bei der Messung dieser Größen stellt das natürliche Magnetfeld der Erde dar. Die Flussdichtewerte des Erdmagnetfeldes betragen in Deutschland ca. 35 myT bis 40 myT. Das interessierende Störsignal überlagert sich räumlich mit diesem Feld. Dadurch können magnetische Gleichfeldstörungen in realen Umgebungen erst bei recht hohen Amplituden messtechnisch erfasst werden. Auf der anderen Seite gibt es Geräte und Systeme, die besonders auf Feldstärkeänderungen sehr sensibel reagieren. Zu nennen wären hier beispielsweise der Versatz von Bildinhalten bei Computermonitoren und Elektronenstrahlmikroskopen. Bei letzterem ist die Größe der Ablenkung des konkreten Bildes von der gewählten Auflösung abhängig, d.h. je kleiner die Strukturen sind, die man mit dem Mikroskop betrachten will, desto größer ist der „Störeffekt“, was ein Arbeiten mit höchster Auflösung in vielen Fällen unmöglich macht. Da man technisch in der Lage ist, immer höhere Auflösungen zu realisieren, derzeit kann man Strukturen um 1 nm darstellen, werden auch die Probleme, welche durch magnetische Felder verursacht werden, künftig sicher größer werden. Die Autoren haben in einer Vielzahl derartiger Beeinflussungsfälle Störquellen lokalisiert und Maßnahmen zur Beseitigung bzw. Minimierung der Auswirkungen der Störung durchgeführt. Stellvertretend sollen zwei dieser Fälle aus den letzten Jahren kurz genannt werden.