Einfluss von Verlustmechanismen in OFW-Bauteilen auf die Akustomigration

Konferenz: MikroSystemTechnik - KONGRESS 2007
15.10.2007 - 17.10.2007 in Dresden

Tagungsband: MikroSystemTechnik

Seiten: 4Sprache: DeutschTyp: PDF

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Autoren:
Jewula, Tomasz; Ruile, Werner; Zidek, Herbert (EPCOS AG, München, Deutschland)
Reindl, Leonhard (IMTEK, Universität Freiburg, Deutschland)
Courty, Diana (IZBS, Universität Karlsruhe, Deutschland)

Inhalt:
Oberflächenwellenbauelemente (OFW-Bauelemente) zeichnen sich durch ihre gute Performance, geringen Abmessungen und kostengünstige Herstellung aus und haben sich deshalb in der Telekommunikation als frequenzselektive Bauteile durchgesetzt. OFW-Filter, die im Front-End von Mobiltelefonen eingesetzt werden, sind im Sendezweig hohen Belastungen ausgesetzt. Bei Überbeanspruchung kann es dabei zu Frequenzverschiebungen kommen, die mit einer Schädigung der Metallstrukturen einhergeht. Die Ursachen der Abhängigkeit der Schädigungsstärke von der Frequenz des Belastungssignals werden hier untersucht. Es wird nachgewiesen, dass der empfindlichste Punkt eines OFW-Reaktanzfilters an der oberen Flanke des Durchlassbereichs liegt und dass an dieser Stelle sowohl die mechanische Spannungsbelastung als auch die Temperaturerhöhung durch Selbsterwärmung maximale Werte annimmt.