Ist die EMV sicherheitsrelevanter Geräte nach bestandenen Störfestigkeitsnachweisen gewährleistet?

Konferenz: EMV 2008 - Internationale Fachmesse und Kongress für Elektromagnetische Verträglichkeit
19.02.2008 - 21.02.2008 in Düsseldorf

Tagungsband: EMV 2008

Seiten: 8Sprache: DeutschTyp: PDF

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Autoren:
Vick, Ralf (Hochschule für Technik und Wirtschaft Dresden (FH)

Inhalt:
Die Beeinflussung von Geräten, Systemen und Anlagen durch elektromagnetische Störgrößen ist ein komplexer physikalischer Prozess mit einer großen Anzahl elektrischer und nichtelektrischer Einflussgrößen, die in ihrer Gesamtheit das Verhalten des betrachteten Objektes prägen. Für Geräte, die sicherheitsrelevante Funktionen realisieren, ist eine ausreichend hohe Immunität gegenüber elektromagnetischen Beeinflussungen von besonderer Bedeutung. Ursprünglich wurden funktionale Sicherheit und EMV voneinander getrennt betrachtet. Für Systeme, bei denen elektronische Geräte kritische Funktionen übernehmen, wie z.B. in Atomkraftwerken oder in Luftfahrzeugen, muss diese Betrachtungsweise überdacht werden. Die Verfügbarkeitslevel nach den EMVStandards sind nicht geeignet, die geforderten Werte für die Safety Integrity Levels (SIL) sicherheitsrelevanter Anwendungen nachzuweisen. Eine Einführung in die mit der funktionalen Sicherheit verbundenen Aspekte der EMV ist in [1] angegeben. Es wird aufgezeigt, dass die EMV und die funktionale Sicherheit in Einklang gebracht werden könnten, wenn: a) erhöhte Störfestigkeitslevel gefordert werden und b) ein spezielles Bewertungskriterium für die funktionale Sicherheit eingeführt und verwendet wird. Als Ergänzung wird in diesem Beitrag gezeigt, dass auch eine Bewertung der Ergebnisse von standardisierten Störfestigkeitsnachweisen gegen pulsförmige Größen und gegebenenfalls eine Anpassung der Verfahren notwendig sind.