Modellierung von LIN-Transceivern für EMV-Simulationen im Kraftfahrzeug

Konferenz: EMV 2008 - Internationale Fachmesse und Kongress für Elektromagnetische Verträglichkeit
19.02.2008 - 21.02.2008 in Düsseldorf

Tagungsband: EMV 2008

Seiten: 8Sprache: DeutschTyp: PDF

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Autoren:
Hilger, Ulf; Frei, Stephan (Technische Universität Dortmund)

Inhalt:
Um eine sichere Datenkommunikation im Kraftfahrzeug zwischen den einzelnen Baugruppen zu gewährleisten und gleichzeitig Kosten zu reduzieren, kommen speziell entwickelte Bussysteme zum Einsatz. Als eine besonders kostengünstige Variante hat sich der LIN-Bus (Local Interconnect Network) im Fahrzeug etabliert. Hierbei handelt es sich um einen Einleiterbus mit Übertragungsraten von bis zu 20 kBit/s und einer relativ hohen Störsicherheit aufgrund besonderer Maßnahmen in den Bustransceivern. Gerade bei ausgedehnteren LIN-Netzwerken ist die Störfestigkeit gegenüber hochfrequenten, Störgrößen zum Teil nur schwer zu erreichen. Eine Aussage zur EMV war bislang nur mit Hilfe von Messungen an Prototypen zu späten Entwicklungsphasen möglich. Um bereits in der Konzeptphase Informationen zum EMV-Verhalten zu bekommen, sind Simulationen notwendig. Hierfür sind gute Modelle der verwendeten Bustransceiver und Leitungen unerlässlich. Bereits veröffentlichte Untersuchungen zur Modellierung von CAN-Transceivern konzentrieren sich auf die Signalintegrität. Im Hinblick auf die Störfestigkeitssimulation von Bustransceivern sind bisher keine Modelle bekannt. Daher wurden im Rahmen des hier beschriebenen Projekts Modelle für Bustransceiver und Verfahren für die Parameterbestimmung entwickelt, die anhand von zwei typischen LIN-Transceivern verifiziert wurden. Simulationsergebnisse aus verschiedenen Konfigurationen wurden mit den Messungen an realen Aufbauten verglichen.