Untersuchung der Schirmdämpfung bei der Resonanzfrequenz eines Schlitzes

Konferenz: EMV 2008 - Internationale Fachmesse und Kongress für Elektromagnetische Verträglichkeit
19.02.2008 - 21.02.2008 in Düsseldorf

Tagungsband: EMV 2008

Seiten: 8Sprache: DeutschTyp: PDF

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Autoren:
Reiser, Peter (Johnson Controls Automotive Electronics GmbH, Karlsruhe)
Garbe, Heyno (Institut für Grundlagen der Elektrotechnik und Messtechnik, Leibniz Universität Hannover)

Inhalt:
Die Schirmwirkung von Gehäusen wird maßgeblich durch die Größe vorhandener Aperturen bestimmt, die für die Belüftung oder der Bedienbarkeit notwendig sind. Der Anwender muss abschätzen, ob eine erforderliche Öffnung, die Schirmdämpfung eines Gehäuses nicht unzulässig mindert. In der Literatur publizierte Berechnungsmethoden zeigen zum Teil sehr unterschiedliche Ergebnisse. Auch die Interpretationen der veröffentlichten Messergebnisse, z. B. von Lamedschwandner, sind schwierig, weil die Dimensionen der Gehäuse und der verwendeten Messaufbauten zu Resonanzen führen, die die Ergebnisse stark beeinflussen. Weiterhin spielen der Ort der Empfangsantenne sowie die räumliche Anordnung der Apertur im Gehäuse eine wichtige Rolle bei der Ermittlung der Schirmdämpfung. Im folgenden Beitrag werden die Messergebnisse eines Gehäuses ausgewertet, bei dem die Schlitzlänge variiert worden ist. Dadurch wird der Einfluss des Schlitzes transparent. Die gemessenen und die berechneten Ergebnisse werden verglichen.