1
A Holistic Approach of an Architecture for Tests of FPGA Based Systems with Boundary Scan
Authors:
Sachße, Jörg; Ostendorff, Steffen; Wuttke, Heinz-Dietrich; Meza Escobar, Jorge Hernán
Conference:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 4. GMM/GI/ITG-Fachtagung
2
A new physics-based NBTI model for DC- and AC-stress enabling accurate circuit aging simulations considering recovery
Authors:
Schlünder, Christian; Reisinger, Hans; Gustin, Wolfgang; Grasser, Tibor
Conference:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 4. GMM/GI/ITG-Fachtagung
3
An opamp array test structure for stress test measurements
Authors:
John, Bibin; Hafkemeyer, Kristian M.; Krautschneider, Wolfgang H.
Conference:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 4. GMM/GI/ITG-Fachtagung
4
Analysis on Effectiveness of SRAM Test Algorithms and Test Statistics on Industrial Data
Authors:
Linder, Michael; Eder, Alfred; Oberländer, Klaus; Resch, Gerald; Huch, Martin
Conference:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 4. GMM/GI/ITG-Fachtagung
5
Ausbeute und Fehlertoleranz bei dreifach modularer Redundanz
Authors:
Hunger, Marc; Hellebrand, Sybille
Conference:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 4. GMM/GI/ITG-Fachtagung
6
Auswirkung von Paramterschwankungen bei verschiedenen Fertigungsverfahren von Kupfer-Leitungsstrukturen
Authors:
Heinig, Andy
Conference:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 4. GMM/GI/ITG-Fachtagung
7
Complete Verification ofWeakly Programmable IPs against their Operational ISA Model
Authors:
Loitz, Sacha; Wedler, Markus; Stoffel, Dominik; Brehm, Christian; Kunz, Wolfgang; Wehn, Norbert
Conference:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 4. GMM/GI/ITG-Fachtagung
8
Design for Reliability (DfR) - A key requirement for modern product design
Authors:
Schlünder, Christian
Conference:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 4. GMM/GI/ITG-Fachtagung
9
Effiziente Simulation von strukturellen Fehlern für die Zuverlässigkeitsanalyse auf Systemebene
Authors:
Kochte, Michael A.; Zöllin, Christian G.; Baranowski, Rafal; Imhof, Michael E.; Wunderlich, Hans-Joachim; Hatami, Nadereh; Carlo, Stefano Di; Prinetto, Paolo
Conference:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 4. GMM/GI/ITG-Fachtagung
10
Eine neue Fehlertoleranzmethode zur Verringerung des Flächenaufwandes von TMR-Systemen
Authors:
Augustin, Michael; Gössel, Michael; Kraemer, Rolf
Conference:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 4. GMM/GI/ITG-Fachtagung
11
IR-Thermographie zur Qualitätssicherung von elektrischen Durchkontaktierungen in Leiterplatten
Authors:
Ras, M. Abo; Ras, M. Abo; May, D.; May, D.; Schacht, R.; Schacht, R.; Wunderle, B.; Wunderle, B.; Michel, B.
Conference:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 4. GMM/GI/ITG-Fachtagung
12
Kompositionelle Formale Robustheitsprüfung
Authors:
Frehse, Stefan; Fey, Görschwin
Conference:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 4. GMM/GI/ITG-Fachtagung
13
Online Transient Error Detection and Recovery in Re-order Buffers of Superscalar Processors
Authors:
Shazli, Syed; Tahoori, Mehdi
Conference:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 4. GMM/GI/ITG-Fachtagung
14
Orbital-X: Fehlertoleranter Rechner für Raumfahrtanwendungen
Authors:
Ortner, Jan; Frickel, Jürgen; Sattler, Sebastian M.; Glauert, Wolfram; Kandler, Bernd; Göbel, Richard; Hager, Philipp; Walter, Ulrich; Graf, Hans-Rainer
Conference:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 4. GMM/GI/ITG-Fachtagung
15
Parameterextraktion VRH-basierter Modelle für organische Feldeffekttransistoren
Authors:
Schirmer, Wolfgang; Glauert, Wolfram H.; Blache, Robert; Krumm, Jürgen; Schmidt, Klaus
Conference:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 4. GMM/GI/ITG-Fachtagung
16
Robuster Selbsttest mit extremer Kompaktierung
Authors:
Indlekofer, Thomas; Schnittger, Michael; Hellebrand, Sybille
Conference:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 4. GMM/GI/ITG-Fachtagung
17
Robustheit nanoelektronischer Schaltungen und Systeme
Authors:
Radetzki, Martin; Bringmann, Oliver; Nebel, Wolfgang; Olbrich, Markus; Salfelder, Felix; Schlichtmann, Ulf
Conference:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 4. GMM/GI/ITG-Fachtagung
18
Schwachstellen und Engpässe bei Verfahren der Selbstreparatur für hochintegrierte Schaltungen und Systeme
Authors:
Koal, Tobias; Scheit, Daniel; Vierhaus, Heinrich T.
Conference:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 4. GMM/GI/ITG-Fachtagung
19
Testmethodik zur Untersuchung von geringen Leckströmen
Authors:
Kirsten, Dagmar; Rolapp, Alexander; Nuernbergk, Dirk M.
Conference:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 4. GMM/GI/ITG-Fachtagung
20
Timing-Modell für Makrozellen zur Alterungsanalyse
Authors:
Lorenz, Dominik; Barke, Martin; Schlichtmann, Ulf
Conference:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 4. GMM/GI/ITG-Fachtagung