Authors:
Jeyaprakash, J. D.; Samuel, S.; Freidank, D.; Neumann, T.; Klapproth, H.; Dahme, G.; Moschallski, M.; Mädge, D.; Toomey, R.; Park, I. J.; Chang, B. J.; Berchthold, B.; Mock, U.; Prucker, O.; Rühe, J.
Conference:
Mikrosystemtechnik Kongress 2005 - Mikrosystemtechnik Kongress 2005