1
Zur Reduktion des Strukturellen Gleichungssatzes konservativer VHDL-AMS Modelle
Autoren:
Shoufan, Abdulhadi; Huss, Sorin A.
Konferenz:
ANALOG '05 - 8. GMM/ITG-Diskussionssitzung: Entwicklung von Analogschaltungen mit CAE-Methoden
2
Zusammenspiel von Portfoliomanagement und Kraftwerkseinsatzoptimierung
Autoren:
Wolter, Horst
Konferenz:
IT-Solutions in der Energieerzeugung - ETG-Fachtagung
3
Zustandsbewertung innerer Grenzflächen mittels Ultraschall
Autoren:
Walter, Philipp; Wirz, Torsten; Cornelissen, Christian; Schnettler, Armin
Konferenz:
Grenzflächen in elektrischen Isolierstoffen - ETG-Fachtagung
4
Zuverlässigkeit komplexer Systeme
Autoren:
Schließer, Randolf; Krueger, Sven
Konferenz:
Mikrosystemtechnik Kongress 2005 - Mikrosystemtechnik Kongress 2005
5
Zuverlässigkeit von Systemen der Leistungselektronik
Autoren:
Roth-Stielow, Jörg
Konferenz:
Internationaler ETG-Kongress 2005 - ETG-Kongress
6
Zuverlässigkeit von Verteilungsnetzen: Wesentliche Einflüsse und vereinfachte Berechnung
Autoren:
Vennegeerts, Hendrik; Obergünner, Markus
Konferenz:
Technische Innovationen in Verteilungsnetzen - ETG-Fachtagung
7
Zuverlässigkeitskonzepte von „Mikro bis Nano“ – Neue Anforderungen und Möglichkeiten der Zuverlässigkeitsbewertung für die Mikrosystemtechnik
Autoren:
Michel, B.
Konferenz:
Mikrosystemtechnik Kongress 2005 - Mikrosystemtechnik Kongress 2005