Cover DIN EN 61788-13 VDE 0390-13:2013-02
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DIN EN 61788-13 VDE 0390-13:2013-02

Supraleitfähigkeit

Teil 13: Messung der Wechselstromverluste – Magnetometerverfahren zur Messung der Hystereseverluste von supraleitenden Multifilament-Verbundleitern

(IEC 61788-13:2012); Deutsche Fassung EN 61788-13:2012
Art/Status: Norm, gültig
Ausgabedatum: 2013-02
VDE-Artnr.: 0390026

Dieser Teil von IEC 61788 beschreibt Überlegungen zur Messung der Hystereseverluste in Cu/Nb-Ti-Multifilament-Verbundsupraleitern mit Hilfe eines Magnetometers mit zeitlich konstantem oder langsam veränderlichem Magnetfeld. Diese Internationale Norm beschreibt die Messung der Hystereseverluste in Cu/Nb-Ti-Multifilament-Verbundsupraleitern. Es wird vorausgesetzt, dass die Messungen an runden Drähten bei einer Temperatur von oder nahe an 4,2 K durchgeführt werden. Die magnetischen Messungen im Gleichfeld oder im langsam veränderlichen Feld werden entweder mit einem SQUID-Magnetometer (SQUID, en: superconducting quantum interference device, siehe Anhang A) oder mit einem Magnetometer mit schwingender Probe (VSM, en: vibrating sample magnetometer) durchgeführt. In den Fällen, in denen Unterschiede zwischen den Messergebnissen der kalibrierten Magnetometer festgestellt werden, gelten die VSM-Ergebnisse, extrapoliert auf das Gleichfeld (Feldänderungsgeschwindigkeit null). Die Erweiterung zur allgemeinen Messung von Supraleitern ist in Anhang B gegeben.

Dieses Normdokument ist eine Ersetzung für:
DIN EN 61788-13 VDE 0390-13:2004-02

Gegenüber DIN EN 61788-13 (VDE 0390-13):2004-02 wurden folgende Änderungen vorgenommen:
a) Der Anwendungsbereich der Norm wurde von NbTi/Cu-Verbundleitern auch auf supraleitende Verbundleiter im Allgemeinen ausgeweitet;
b) die Norm wurde von Messungen bei 4,2 K auch auf Messungen bei anderen Temperaturen ausgeweitet;
c) ein informativer Anhang zu Messunsicherheitsbetrachtungen wurde hinzugefügt;
d) ein informativer Anhang zum SQUID-Messverfahren wurde hinzugefügt;
e) ein normativer Anhang zur Erweiterung der Norm auf die Messung von Supraleitern im Allgemeinen wurde hinzugefügt;
f) neue Abbildungen von Versuchsaufbauten und Probenanordnungen wurden hinzugefügt.