DIN EN 61000-4-20 VDE 0847-4-20:2011-07
Elektromagnetische Verträglichkeit (EMV)
Teil 4-20: Prüf- und Messverfahren – Messung der Störaussendung und Störfestigkeit in transversal-elektromagnetischen (TEM-)Wellenleitern
(IEC 61000-4-20:2010); Deutsche Fassung EN 61000-4-20:2010
Art/Status:
Norm,
zurückgezogen
Ausgabedatum: 2011 -07
VDE-Artnr.: 0847093
Ende der Übergangsfrist:
2025-03-25
Diese Norm enthält die Deutsche Fassung der Europäischen Norm EN 61000-4-20:2010 und ist identisch mit der Internationalen Norm IEC 61000-4-20:2010. Sie gilt für die Messung der Störaussendung und die Prüfung der Störfestigkeit von elektrischen oder elektronischen Geräten (Einrichtungen) in Bezug auf hochfrequente elektromagnetische Felder, wobei verschiedene Arten von TEM-Wellenleitern (transversal elektromagnetisch, TEM) eingesetzt werden. Diese beinhalten offene Strukturen (z. B. Streifenleiter und EMP-Simulatoren) und geschlossene Strukturen (z. B. TEM-Zellen), die weiter in Ein-, Zwei- oder Vieltor-TEM-Wellenleiter unterteilt werden können. Der Frequenzbereich hängt von den speziellen Prüfanforderungen und dem speziellen Typ des TEM-Wellenleiters ab. Prüflinge, die im TEM-Wellenleiter geprüft werden sollen, müssen klein sein und es dürfen keine Leitungen an sie angeschlossen sein. Gegenüber der vorhergehenden Norm wurde u. a. die Norm umstrukturiert, die Abschnitte 7 bis 9 und ein neuer informativer Anhang betreffend die Feldsondenkalibrierung ergänzt.
Dieses Normdokument ist eine Ersetzung für:
DIN EN 61000-4-20 VDE 0847-4-20:2008-03
Gegenüber DIN EN 61000-4-20 (VDE 0847-4-20):2008-03 wurden folgende Änderungen vorgenommen:
a) Umstrukturierung der Norm; so wurde der bisherige B.2.2 zu 5.2.3 und der bisherige A.6.2 zu A.5.1.2;
b) In 5.2.2 Erhöhung der Anzahl der Prüfpunkte auf 5 %, für die die sekundäre elektrische Feldkomponente einen Pegel bis zu -2 dB der primären elektrischen Feldkomponente haben dürfen, und Streichung der Festlegung für große TEM-Wellenleiter;
c) Ergänzung der ANMERKUNG 2 in 5.2.2 und entsprechende Änderung der Nummern der nachfolgenden Anmerkungen;
d) Ergänzung der ANMERKUNG 1 und ANMERKUNG 2 in 5.2.3 (vorher B.2.2) und entsprechende Änderung der Nummern der nachfolgenden Anmerkungen;
e) Überarbeitung des Kalibrierverfahrens für die Gleichförmigkeit des Feldes in 5.2.3 (vorher B.2.2);
f) Streichung des bisherigen 5.1.3 zu Effekten der Beladung in TEM-Wellenleitern;
g) Streichung von 5.3 zu Betrachtungen der Messunsicherheit;
h) Ergänzung der Abschnitte 7 bis 9; zugunsten der Aufnahme von 7.2 zu klimatischen Bedingungen wird C.5.1 gestrichen und die nachfolgenden Abschnitte entsprechend umnummeriert;
i) Streichung im ersten Absatz von A.3.1, dass Meinungsverschiedenheiten das ursprünglich verwendete Verfahren Vorrang besitzt;
j) Streichung von A.4.2.2 zum Eignungsnachweis des TEM-Wellenleiters für große Prüflinge;
k) Überarbeitung von B.2.3 zur Validierung des gleichförmigen Felds im TEM-Wellenleiter für Prüfungen der Störfestigkeit;
l) Ergänzung eines neuen Anhangs E zur Kalibrierung von Feldsonden und Änderung der Bezeichnung des bisherigen Anhangs E in Anhangs F;
m) redaktionelle Überarbeitung der Norm.
