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1

3D-gedruckte HF-Schirmkammern

Autoren:
Engert, Alexander
Konferenz:
EBL 2020 – Elektronische Baugruppen und Leiterplatten - 10. DVS/GMM-Tagung

2

3D-Integration für elektro-optische Systeme auf Modulebene

Autoren:
Nieweglowski, Krzysztof; Lorenz, Lukas; Ackstaller, Thomas; Karlheinz Bock,
Konferenz:
EBL 2020 – Elektronische Baugruppen und Leiterplatten - 10. DVS/GMM-Tagung

3

4-Punkt-Biegetest bei erhöhter Temperatur – Einfluss von Temperatur und Haltezeit

Autoren:
Pahlke, Sebastian; Gerl, Andreas; Chan, Yuen Sing; Rau, Ingolf
Konferenz:
EBL 2020 – Elektronische Baugruppen und Leiterplatten - 10. DVS/GMM-Tagung

4

Aktuelle Untersuchungsergebnisse zur Entstehung und Vermeidung der Wicking-Defekte beim Löten von SMT-Steckverbindern

Autoren:
Bell, Hans; Wild, Paul; Kaminski, Stephen
Konferenz:
EBL 2020 – Elektronische Baugruppen und Leiterplatten - 10. DVS/GMM-Tagung

5

Analyse der Reaktionsprodukte von Metall-Formiaten im rückstandfreien Lötprozess

Autoren:
Elger, Gordon; Mokhtari, Omid; Bhogaraju, Sri Krishna; Conti, Fosca; Meier, Markus; Schweigart, Helmut
Konferenz:
EBL 2020 – Elektronische Baugruppen und Leiterplatten - 10. DVS/GMM-Tagung

6

Analysen der Lotermüdung an montierten Testbaugruppen unter Thermowechselbeanspruchungen

Autoren:
Dudek, Rainer; Hildebrandt, Marcus; Rzepka, Sven; Döring, Ralf; Scheiter, Lutz; Tegehall, Per-Erik; Zhang, Mengjia; Ortmann, Reinhold W.
Konferenz:
EBL 2020 – Elektronische Baugruppen und Leiterplatten - 10. DVS/GMM-Tagung

7

Anwendungen mit integrierten Schichten für endogene Heizprozesse auf Leiterplatten

Autoren:
Seehase, Dirk; Neiser, Arne; Lange, Fred; Novikov, Andrej; Nowottnick, Mathias
Konferenz:
EBL 2020 – Elektronische Baugruppen und Leiterplatten - 10. DVS/GMM-Tagung

8

Charakterisierung und Zuverlässigkeitsbewertung verformungsbeanspruchter mikroelektronischer Systeme für die Mobilität der Zukunft

Autoren:
Seiler, Bettina; Eichhorst, Michael; Döring, Ralf; Niessner, Martin
Konferenz:
EBL 2020 – Elektronische Baugruppen und Leiterplatten - 10. DVS/GMM-Tagung

10

Digitale Transformation in der Fertigungsplanung

Autoren:
Traurig,  Tobias
Konferenz:
EBL 2020 – Elektronische Baugruppen und Leiterplatten - 10. DVS/GMM-Tagung

11

Ein Ansatz zu Qualitätsvorhersage mittels intelligenter SMT-Lötstelleninspektion durch den Einsatz von Maschinellem Lernen

Autoren:
Schmidt, Konstantin; Bönig, Jochen; Beitinger, Gunter; Thielen, Nils; Franke, Jörg
Konferenz:
EBL 2020 – Elektronische Baugruppen und Leiterplatten - 10. DVS/GMM-Tagung

12

Einfluss der Datenaufbereitung auf die Erkennung fehlerhafter Maschineneinstellungen im Drahtbonden durch maschinelles Lernen

Autoren:
Klingert, Felix; Schellenberger, Martin; Papadoudis, Jan; Brueggemann, Michael; Pressel, Klaus
Konferenz:
EBL 2020 – Elektronische Baugruppen und Leiterplatten - 10. DVS/GMM-Tagung

13

Einfluss des pH-Wertes auf den Mechanismus der Elektrochemischen Migration

Autoren:
Schweigart, Helmut; Meier, Markus R.
Konferenz:
EBL 2020 – Elektronische Baugruppen und Leiterplatten - 10. DVS/GMM-Tagung

14

Einfluss eines abnormalen (CuNi)6Sn5 / (NiCu)3Sn4-Schichtwachtsums auf die Robustheit von bleifreien Zinn-Silber-Basis-Lotstellen bei Temperaturen oberhalb von 175 °C

Autoren:
Herberholz, Timo; Prihodovsky, Andrey; Nowottnick, Mathias
Konferenz:
EBL 2020 – Elektronische Baugruppen und Leiterplatten - 10. DVS/GMM-Tagung

15

Einflüsse von Verwindungen und Wölbungen während des Lötprozesses auf die Qualität und Zuverlässigkeit von Lötstellen

Autoren:
Wohlrabe, Heinz; Meier, Karsten; Albrecht, Oliver
Konferenz:
EBL 2020 – Elektronische Baugruppen und Leiterplatten - 10. DVS/GMM-Tagung

16

Elektronik einer neuen Dimension – Potenziale dehnbarer Foliensysteme bei der Entwicklung interaktiver Mikroimplantate

Autoren:
Philippin, Nadine; Schreivogel, Alina; Kühne, Ingo; Kostelnik, Jan
Konferenz:
EBL 2020 – Elektronische Baugruppen und Leiterplatten - 10. DVS/GMM-Tagung

17

Ermüdungsverhalten hoch-belasteter Ag-Sinterverbindungen

Autoren:
Gökdeniz, Zeynep; Mündlein, Martin; Khatibi, Golta; Steiger-Thirsfeld, Andreas; Nicolics, Johann
Konferenz:
EBL 2020 – Elektronische Baugruppen und Leiterplatten - 10. DVS/GMM-Tagung

18

Evaluation verschiedener Ansätze zur vollautomatisierten Montage von Weicheisenkernen auf Flachbaugruppen in traditionellen SMD-Linien

Autoren:
Voigt, Christian A.; Franke, Jörg
Konferenz:
EBL 2020 – Elektronische Baugruppen und Leiterplatten - 10. DVS/GMM-Tagung

19

Experimentelle und numerische Studie zu thermischen Kopplungen unter Berücksichtigung des Wärmespreizwinkels von Silizium-Flip-Chips auf FR4-Substrat bei natürlicher und forcierter Konvektion

Autoren:
Nowak, Torsten; Merbold, Sebastian; Egbers, Christoph; Schacht, Ralph
Konferenz:
EBL 2020 – Elektronische Baugruppen und Leiterplatten - 10. DVS/GMM-Tagung

20

Flexible Aufbau- und Verbindungstechnik für die mobile in-vivo Blutspektrometrie

Autoren:
Schaulin, M.; Bock, K.
Konferenz:
EBL 2020 – Elektronische Baugruppen und Leiterplatten - 10. DVS/GMM-Tagung