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Untersuchung der Zuverlässigkeit hochtemperaturgeeigneter Baugruppen

Autoren:
Pape, Uwe; Rittner, M.; Liebl, T.; Neher, W.; Nowottnick, M.
Konferenz:
Elektronische Baugruppen - Aufbau und Fertigungstechnik - Erfolg durch Innovation - 3. DVS/GMM-Fachtagung

42

Verarbeitung und Zuverlässigkeit gelöteter und leitgeklebter Fine-Pitch-Bauelemente auf starren und flexiblen Substraten

Autoren:
Schüßler, Florian; Feldmann, Klaus; Wölflick, Peter
Konferenz:
Elektronische Baugruppen - Aufbau und Fertigungstechnik - Erfolg durch Innovation - 3. DVS/GMM-Fachtagung

43

Zuverlässigkeit von Beschichtungsstoffen für elektronische Baugruppen bei Belastung durch Temperaturdauerstress und Temperaturwechselstress

Autoren:
Suppa, Manfred
Konferenz:
Elektronische Baugruppen - Aufbau und Fertigungstechnik - Erfolg durch Innovation - 3. DVS/GMM-Fachtagung

44

Zuverlässigkeit von nachgearbeiteten Baugruppen

Autoren:
Schimpf, Claudius; Rösch, Michael; Feldmann, Klaus
Konferenz:
Elektronische Baugruppen - Aufbau und Fertigungstechnik - Erfolg durch Innovation - 3. DVS/GMM-Fachtagung

45

Zuverlässigkeitsaspekte der chemischen NiP/ Au-Abscheidung

Autoren:
Schmidt, Ralf; Zwanzig, Michael
Konferenz:
Elektronische Baugruppen - Aufbau und Fertigungstechnik - Erfolg durch Innovation - 3. DVS/GMM-Fachtagung