1
Zuverlässigkeit von Systemen der Leistungselektronik
Autoren:
Roth-Stielow, Jörg
Konferenz:
Internationaler ETG-Kongress 2005 - ETG-Kongress
2
Zuverlässigkeit von Verteilungsnetzen: Wesentliche Einflüsse und vereinfachte Berechnung
Autoren:
Vennegeerts, Hendrik; Obergünner, Markus
Konferenz:
Technische Innovationen in Verteilungsnetzen - ETG-Fachtagung
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Zuverlässigkeitskonzepte von „Mikro bis Nano“ – Neue Anforderungen und Möglichkeiten der Zuverlässigkeitsbewertung für die Mikrosystemtechnik
Autoren:
Michel, B.
Konferenz:
Mikrosystemtechnik Kongress 2005 - Mikrosystemtechnik Kongress 2005