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IEC 62373:2006

Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET)

Ausgabedatum: 2006-07
Edition: 1.0
Sprache: EN-FR - zweisprachig englisch/französisch
Seitenzahl: 27 VDE-Artnr.: 212915

Inhaltsverzeichnis

Provides a test procedure for a bias-temperature (BT) stability test of metal-oxide semiconductor, field-effect transistors (MOSFET)