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IEC 62416:2010

Semiconductor devices - Hot carrier test on MOS transistors

Ausgabedatum: 2010-04
Edition: 1.0
Sprache: EN-FR - zweisprachig englisch/französisch
Seitenzahl: 20 VDE-Artnr.: 217130

Inhaltsverzeichnis

IEC 62416:2010 describes the wafer level hot carrier test on NMOS and PMOS transistors. The test is intended to determine whether the single transistors in a certain (C)MOS process meet the required hot carrier lifetime.