IEC 60749-23:2004/AMD1:2011

Amendment 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life

Ausgabedatum: 2011-01
Edition: 1.0
Sprache: EN-FR - zweisprachig englisch/französisch
Seitenzahl: 5 VDE-Artnr.: 217769