1
Alterungsanalyse digitaler Schaltungen auf Gatterebene
Authors:
Lorenz, Dominik; Georgakos, Georg; Schlichtmann, Ulf
Conference:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 3. GMM/GI/ITG-Fachtagung
2
Analyse und Optimierung von fehlertoleranten Eingebetteten Systemen mit gehärteten Prozessoren
Authors:
Izosimov, Viacheslav; Polian, Ilia; Pop, Paul; Eles, Petru; Peng, Zebo
Conference:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 3. GMM/GI/ITG-Fachtagung
3
Anwendungsbezogene Analyse der Robustheit von Digitalen Schaltungen
Authors:
Sülflow, André; Frehse, Stefan; Fey, Görschwin; Drechsler, Rolf
Conference:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 3. GMM/GI/ITG-Fachtagung
4
Automatische Generierung hierarchischer Platzierungsregeln für analoge integrierte Schaltungen
Authors:
Eick, M.; Strasser, M.; Gräb, H.; Schlichtmann, U.
Conference:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 3. GMM/GI/ITG-Fachtagung
5
Basic design challenges for logical gates using non-standard technologies or circuit concept approaches
Authors:
Amar, Ahmed; Glauert, Wolfram H.
Conference:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 3. GMM/GI/ITG-Fachtagung
6
Comparison of 4 Reliability Prediction Approaches for realistic failure rates of electronic parts required for Safety & Reliability Analysis
Authors:
Hoppe, Wolfgang; Schwederski, Patrick
Conference:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 3. GMM/GI/ITG-Fachtagung
7
Degradierbare Switches für fehlertolerante Networks-on-Chip
Authors:
Kohler, Adan; Radetzki, Martin
Conference:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 3. GMM/GI/ITG-Fachtagung
8
Design for reliability of analog circuits in nanometer CMOS technology
Authors:
Gielen, Georges; Maricau, Elie; Wit, Pieter De
Conference:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 3. GMM/GI/ITG-Fachtagung
9
Entwurfsmethodik für einen Multi-Design-Rule Via-Testchip
Authors:
Kohlert, D.; Holmer, R.
Conference:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 3. GMM/GI/ITG-Fachtagung
10
Entwurfsregeln für integrierte SRAM Speicher zur Unterdrückung von Multi-Bit Fehlern in sub-100nm CMOS Technologien
Authors:
Georgakos, Georg; Borucki, Ludger; Gawlina, Yvonne
Conference:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 3. GMM/GI/ITG-Fachtagung
11
Increasing Test Quality and Device Reliability by Test Simulation
Authors:
Lu, Ping; Glaser, Daniel; Uygur, Guerkan; Weichslgartner, Susanne; Helmreich, Klaus; Lechner, Armin
Conference:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 3. GMM/GI/ITG-Fachtagung
12
Laser Scanner Lokalisierungsmethode für die schnelle Analyse von DRAM Komponenten
Authors:
Versen, Martin; Schramm, Achim; Schnepp, Jan; Hoch, Sascha; Vikas, Tapan; Diaconescu, Dorina
Conference:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 3. GMM/GI/ITG-Fachtagung
13
Logisch-statistische Simulation mit Temperatur- und Spannungskartierung zur Vorhersage von Variations- und Alterungseffekten
Authors:
Helms, Domenik; Hylla, Kai,; Nebel, Wolfgang
Conference:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 3. GMM/GI/ITG-Fachtagung
14
Metric-Driven Validation and Verification of Software for Embedded Systems
Authors:
Winterholer, Markus
Conference:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 3. GMM/GI/ITG-Fachtagung
15
Neue Herausforderungen an die Verdrahtungsvorhersage beim 3D-Layoutentwurf
Authors:
Meister, Tilo; Lienig, Jens
Conference:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 3. GMM/GI/ITG-Fachtagung
16
Neue Teststrukturen zur Messung von Matching und Alterung an MOS-Transistoren
Authors:
Meister, Michael; Nuernbergk, Dirk
Conference:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 3. GMM/GI/ITG-Fachtagung
17
Optimales, skalierbares Ressourcenmanagement für modulare, gemischt analog-digitale Testsysteme
Authors:
Uygur, Gürkan; Lu, Ping; Glaser, Daniel; Weichslgartner, Susanne; Helmreich, Klaus; Sattler, Sebastian; Lechner, Armin; Brenneke, Andreas
Conference:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 3. GMM/GI/ITG-Fachtagung
18
Robustheitsanalyse stark fehlersicherer Schaltungen mit SAT-basierter Testmustererzeugung
Authors:
Hunger, Marc; Hellebrand, Sybille; Czutro, Alexander; Polian, Ilia; Becker, Bernd
Conference:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 3. GMM/GI/ITG-Fachtagung
19
Selbstreparatur durch Regularisierung von Logik-Strukturen
Authors:
Koal, T.; Scheit, D.; Vierhaus, H. T.
Conference:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 3. GMM/GI/ITG-Fachtagung
20
Statistische Parasitics-Extraktion und Crosstalk-Noise
Authors:
Heinig, Andy; Sohrmann, Christoph
Conference:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 3. GMM/GI/ITG-Fachtagung