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1

Timing Slack Monitoring for Reliability Diagnosis

Autoren:
Pour Aryan, Nasim; Wirnshofer, Martin; Aghaie, Soheil; Georgakos, Georg; Schmitt-Landsiedel, Doris
Konferenz:
edaWorkshop 13 - Tagungsband

2

Towards more Dependable Verification of Parameter Variations using Semi-Formal Techniques

Autoren:
Radojicic, Carna; Moreno, Javier; Pan, Xiao; Grimm, Christoph
Konferenz:
edaWorkshop 13 - Tagungsband

3

Using Analog Meta-Stabilities in Asynchronously Feed-Backed Circuits

Autoren:
Uygur, Gürkan; Sattler, Sebastian M.
Konferenz:
edaWorkshop 13 - Tagungsband

4

Automatisierter Flow zur spannungsabhängigen Abstandsprüfung

Autoren:
Marquardt, Hartmut; deBoer, Peter; Herrmann, Andreas
Konferenz:
edaWorkshop 12 - Workshop 2012 - Electronic Design Automation (EDA)

5

Compilation of Methodologies to Speed up the Verification Process at System Level

Autoren:
Radke, Stephan; Rülke, Steffen; Oliveira, Marcio F. S.; Kuznik, Christoph; Müller, Wolfgang; Ecker, Wolfgang; Esen, Volkan; Hufnagel, Simon; Bannow, Nico; Brazdrum, Helmut; Janssen, Peter; Le, Hoang M.; Große, Daniel; Drechsler, Rolf; Fehlauer, Erhard; Koch, Gernot; Burger, Andreas; Bringmann, Oliver; Rosenstiel, Wolfgang; Haedicke, Finn; Görgen, Ralph; Oetjens, Jan-Hendrik
Konferenz:
edaWorkshop 12 - Workshop 2012 - Electronic Design Automation (EDA)

6

Design methodology for a self-healing signal processing unit on the example of an FIR filter

Autoren:
Metzdorf, Malte; Eilers, Reef; Helms, Domenik; Nebel, Wolfgang
Konferenz:
edaWorkshop 12 - Workshop 2012 - Electronic Design Automation (EDA)

7

Digital gesteuerte formale Analog-Verifikation asynchroner r ückgekoppelter Schaltungsstrukturen

Autoren:
Uygur, Gürkan; Sattler, Sebastian M.
Konferenz:
edaWorkshop 12 - Workshop 2012 - Electronic Design Automation (EDA)

8

Functional Analysis of Circuits Under Timing Variations

Autoren:
Mehdi, Dehbashi; Görschwin, Fey; Kaushik, Roy; Anand, Raghunathan
Konferenz:
edaWorkshop 12 - Workshop 2012 - Electronic Design Automation (EDA)

9

Klassifizierung von Testdaten mittels PCA-Verfahren am Beispiel analoger Schaltungen

Autoren:
Schaller, Andreas; Sattler, Sebastian M.
Konferenz:
edaWorkshop 12 - Workshop 2012 - Electronic Design Automation (EDA)

10

MiDes - Mikrosystemtechnik Design Flow für KMU

Autoren:
Hahn, Kai; Hedrich, Lars; Salfelder, Felix; Kremer, Helmut; Völklein, Friedemann; Korb, Winfried
Konferenz:
edaWorkshop 12 - Workshop 2012 - Electronic Design Automation (EDA)

11

RELY - RELIABILITY of SoCs for safety critical applications

Autoren:
Koser, Erol; Pour Aryan, Nasim; Wirnshofer, Martin; Georgakos, Georg; Stechele,Walter; Schmitt-Landsiedel, Doris
Konferenz:
edaWorkshop 12 - Workshop 2012 - Electronic Design Automation (EDA)

12

Robustheitsvalidierung digitaler Schaltungen und Systeme mittels effizienter Alterungsanalyse

Autoren:
Barke, Martin; Lorenz, Dominik; Schlichtmann, Ulf
Konferenz:
edaWorkshop 12 - Workshop 2012 - Electronic Design Automation (EDA)

13

Systematic fault simulation of a fault tolerant NoC

Autoren:
Lu, Weiyun; Radetzki, Martin
Konferenz:
edaWorkshop 12 - Workshop 2012 - Electronic Design Automation (EDA)

14

Testen von gestapelten Dies - eine Betrachtung der Kosten

Autoren:
Wahl, Michael; Brück, Rainer
Konferenz:
edaWorkshop 12 - Workshop 2012 - Electronic Design Automation (EDA)

15

3D Physical Design: Challenges and Solutions

Autoren:
Fischbach, Robert; Lienig, Jens; Meister, Tilo
Konferenz:
edaWorkshop 11 - Proceedings

16

A Performance Comparison Between the SystemC-AMS Models of Computation

Autoren:
Paugnat, Franck; Bousquet, Laurent; Morin-Alwry, Katell; Fesquet, Laurent
Konferenz:
edaWorkshop 11 - Proceedings

17

An Approach toward Accurately Timed TLM+ for Embedded System Models

Autoren:
Lu, Kun; Müller-Gritschneder, Daniel; Ecker, Wolfgang; Esen, Volkan; Velten, Michael; Schlichtmann, Ulf
Konferenz:
edaWorkshop 11 - Proceedings

18

An NBTI model for efficient transient simulation of analogue circuits

Autoren:
Salfelder, Felix; Hedrich, Lars
Konferenz:
edaWorkshop 11 - Proceedings

19

Eine Methodik zur Nutzung von klassischen IP-Blöcken in 3D-Schaltkreisen

Autoren:
Knechtel, Johann; Lienig, Jens
Konferenz:
edaWorkshop 11 - Proceedings

20

Fully Coupled Circuit and Device Simulation with Exploitation of Algebraic Multigrid Linear Solvers

Autoren:
Klaassen, Bernhard; Clees, Tanja; Tischendorf, Caren; Selva Soto, Monica; Baumanns, Sascha
Konferenz:
edaWorkshop 11 - Proceedings