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1

A Holistic Approach of an Architecture for Tests of FPGA Based Systems with Boundary Scan

Autoren:
Sachße, Jörg; Ostendorff, Steffen; Wuttke, Heinz-Dietrich; Meza Escobar, Jorge Hernán
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 4. GMM/GI/ITG-Fachtagung

2

A new physics-based NBTI model for DC- and AC-stress enabling accurate circuit aging simulations considering recovery

Autoren:
Schlünder, Christian; Reisinger, Hans; Gustin, Wolfgang; Grasser, Tibor
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 4. GMM/GI/ITG-Fachtagung

3

An opamp array test structure for stress test measurements

Autoren:
John, Bibin; Hafkemeyer, Kristian M.; Krautschneider, Wolfgang H.
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 4. GMM/GI/ITG-Fachtagung

4

Analysis on Effectiveness of SRAM Test Algorithms and Test Statistics on Industrial Data

Autoren:
Linder, Michael; Eder, Alfred; Oberländer, Klaus; Resch, Gerald; Huch, Martin
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 4. GMM/GI/ITG-Fachtagung

5

Ausbeute und Fehlertoleranz bei dreifach modularer Redundanz

Autoren:
Hunger, Marc; Hellebrand, Sybille
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 4. GMM/GI/ITG-Fachtagung

6

Auswirkung von Paramterschwankungen bei verschiedenen Fertigungsverfahren von Kupfer-Leitungsstrukturen

Autoren:
Heinig, Andy
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 4. GMM/GI/ITG-Fachtagung

7

Complete Verification ofWeakly Programmable IPs against their Operational ISA Model

Autoren:
Loitz, Sacha; Wedler, Markus; Stoffel, Dominik; Brehm, Christian; Kunz, Wolfgang; Wehn, Norbert
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 4. GMM/GI/ITG-Fachtagung

8

Design for Reliability (DfR) - A key requirement for modern product design

Autoren:
Schlünder, Christian
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 4. GMM/GI/ITG-Fachtagung

9

Effiziente Simulation von strukturellen Fehlern für die Zuverlässigkeitsanalyse auf Systemebene

Autoren:
Kochte, Michael A.; Zöllin, Christian G.; Baranowski, Rafal; Imhof, Michael E.; Wunderlich, Hans-Joachim; Hatami, Nadereh; Carlo, Stefano Di; Prinetto, Paolo
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 4. GMM/GI/ITG-Fachtagung

10

Eine neue Fehlertoleranzmethode zur Verringerung des Flächenaufwandes von TMR-Systemen

Autoren:
Augustin, Michael; Gössel, Michael; Kraemer, Rolf
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 4. GMM/GI/ITG-Fachtagung

11

IR-Thermographie zur Qualitätssicherung von elektrischen Durchkontaktierungen in Leiterplatten

Autoren:
Ras, M. Abo; Ras, M. Abo; May, D.; May, D.; Schacht, R.; Schacht, R.; Wunderle, B.; Wunderle, B.; Michel, B.
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 4. GMM/GI/ITG-Fachtagung

12

Kompositionelle Formale Robustheitsprüfung

Autoren:
Frehse, Stefan; Fey, Görschwin
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 4. GMM/GI/ITG-Fachtagung

13

Online Transient Error Detection and Recovery in Re-order Buffers of Superscalar Processors

Autoren:
Shazli, Syed; Tahoori, Mehdi
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 4. GMM/GI/ITG-Fachtagung

14

Orbital-X: Fehlertoleranter Rechner für Raumfahrtanwendungen

Autoren:
Ortner, Jan; Frickel, Jürgen; Sattler, Sebastian M.; Glauert, Wolfram; Kandler, Bernd; Göbel, Richard; Hager, Philipp; Walter, Ulrich; Graf, Hans-Rainer
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 4. GMM/GI/ITG-Fachtagung

15

Parameterextraktion VRH-basierter Modelle für organische Feldeffekttransistoren

Autoren:
Schirmer, Wolfgang; Glauert, Wolfram H.; Blache, Robert; Krumm, Jürgen; Schmidt, Klaus
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 4. GMM/GI/ITG-Fachtagung

16

Robuster Selbsttest mit extremer Kompaktierung

Autoren:
Indlekofer, Thomas; Schnittger, Michael; Hellebrand, Sybille
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 4. GMM/GI/ITG-Fachtagung

17

Robustheit nanoelektronischer Schaltungen und Systeme

Autoren:
Radetzki, Martin; Bringmann, Oliver; Nebel, Wolfgang; Olbrich, Markus; Salfelder, Felix; Schlichtmann, Ulf
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 4. GMM/GI/ITG-Fachtagung

18

Schwachstellen und Engpässe bei Verfahren der Selbstreparatur für hochintegrierte Schaltungen und Systeme

Autoren:
Koal, Tobias; Scheit, Daniel; Vierhaus, Heinrich T.
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 4. GMM/GI/ITG-Fachtagung

19

Testmethodik zur Untersuchung von geringen Leckströmen

Autoren:
Kirsten, Dagmar; Rolapp, Alexander; Nuernbergk, Dirk M.
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 4. GMM/GI/ITG-Fachtagung

20

Timing-Modell für Makrozellen zur Alterungsanalyse

Autoren:
Lorenz, Dominik; Barke, Martin; Schlichtmann, Ulf
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 4. GMM/GI/ITG-Fachtagung