Anzeige
Sortierung
Seite 2 von 2

21

Robust Analog Design for Automotive Applications by Design Centering

Autoren:
Sobe, Udo; Rooch, Karl-Heinz; Pronath, Michael
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 1. GMM/GI/ITG-Fachtagung

22

Statistical Interconnect Variations: Extraction and Simulation

Autoren:
Kinzelbach, Harald
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 1. GMM/GI/ITG-Fachtagung

23

Statistische Laufzeitmodellierung digitaler Gatter mittels analytischem Timing-Modell und Dichte-Transformationssatz

Autoren:
Schneider, Walter; Schmidt, Manuel; Li, Bing; Schlichtmann, Ulf
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 1. GMM/GI/ITG-Fachtagung

24

Synthese zuverlässiger und flexibler Systeme

Autoren:
Glaß, Michael; Lukasiewycz, Martin; Streichert, Thilo; Haubelt, Christian; Teich, Jürgen
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 1. GMM/GI/ITG-Fachtagung

25

Test und Zuverlässigkeit nanoelektronischer Systeme

Autoren:
Becker, Bernd; Polian, Ilia; Hellebrand, Sybille; Straube, Bernd; Wunderlich, Hans-Joachim
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 1. GMM/GI/ITG-Fachtagung

26

Timing-Driven-3D-Platzierung mit einem kräftebasierten Ansatz

Autoren:
Ohlendorf, Ole; Olbrich, Markus; Barke, Erich
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 1. GMM/GI/ITG-Fachtagung

27

Towards a Systematic Design of Fault-Tolerant Asynchronous Circuits

Autoren:
Schmid, Ulrich; Steininger, Andreas; Veith, Helmut
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 1. GMM/GI/ITG-Fachtagung

28

Übertragung von Methoden zur Bewertung der Hardwarezuverlässigkeit auf komponentenbasierte Softwaresysteme

Autoren:
Wedel, Michael; Göhner, Peter
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 1. GMM/GI/ITG-Fachtagung

29

Verification of FlexRay using directed and coverage-based testing – A comparison

Autoren:
Baumeister, Markus; Ungermann, Jörn
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 1. GMM/GI/ITG-Fachtagung

30

Verlustleistungsoptimierende Testplanung zur Steigerung von Zuverlässigkeit und Ausbeute

Autoren:
Imhof, Michael E.; Zöllin, Christian G.; Wunderlich, Hans-Joachim; Mäding, Nicolas; Leenstra, Jens
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 1. GMM/GI/ITG-Fachtagung

31

Verwendung von Gebietsarithmetiken zum Entwurf robuster Schaltungen und Systeme

Autoren:
Freisfeld, M.; Olbrich, M.; Grimm, C.; Barke, E.
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 1. GMM/GI/ITG-Fachtagung

32

Via-Array-Testchip, ein Verfahren zur Optimierung von Zuverlässigkeit und Qualität von CMOS-Bausteinen

Autoren:
Kohlert, Dieter; Holmer, Rainer
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 1. GMM/GI/ITG-Fachtagung

33

Zuverlässigkeitserhöhung mit funktionalen Monitoren

Autoren:
Eveking, H.; Schickel, M.; Braun, M.; Nimbler, V.
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 1. GMM/GI/ITG-Fachtagung