1
Robust Analog Design for Automotive Applications by Design Centering
Autoren:
Sobe, Udo; Rooch, Karl-Heinz; Pronath, Michael
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 1. GMM/GI/ITG-Fachtagung
2
Statistical Interconnect Variations: Extraction and Simulation
Autoren:
Kinzelbach, Harald
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 1. GMM/GI/ITG-Fachtagung
3
Statistische Laufzeitmodellierung digitaler Gatter mittels analytischem Timing-Modell und Dichte-Transformationssatz
Autoren:
Schneider, Walter; Schmidt, Manuel; Li, Bing; Schlichtmann, Ulf
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 1. GMM/GI/ITG-Fachtagung
4
Synthese zuverlässiger und flexibler Systeme
Autoren:
Glaß, Michael; Lukasiewycz, Martin; Streichert, Thilo; Haubelt, Christian; Teich, Jürgen
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 1. GMM/GI/ITG-Fachtagung
5
Test und Zuverlässigkeit nanoelektronischer Systeme
Autoren:
Becker, Bernd; Polian, Ilia; Hellebrand, Sybille; Straube, Bernd; Wunderlich, Hans-Joachim
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 1. GMM/GI/ITG-Fachtagung
6
Timing-Driven-3D-Platzierung mit einem kräftebasierten Ansatz
Autoren:
Ohlendorf, Ole; Olbrich, Markus; Barke, Erich
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 1. GMM/GI/ITG-Fachtagung
7
Towards a Systematic Design of Fault-Tolerant Asynchronous Circuits
Autoren:
Schmid, Ulrich; Steininger, Andreas; Veith, Helmut
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 1. GMM/GI/ITG-Fachtagung
8
Übertragung von Methoden zur Bewertung der Hardwarezuverlässigkeit auf komponentenbasierte Softwaresysteme
Autoren:
Wedel, Michael; Göhner, Peter
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 1. GMM/GI/ITG-Fachtagung
9
Verification of FlexRay using directed and coverage-based testing – A comparison
Autoren:
Baumeister, Markus; Ungermann, Jörn
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 1. GMM/GI/ITG-Fachtagung
10
Verlustleistungsoptimierende Testplanung zur Steigerung von Zuverlässigkeit und Ausbeute
Autoren:
Imhof, Michael E.; Zöllin, Christian G.; Wunderlich, Hans-Joachim; Mäding, Nicolas; Leenstra, Jens
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 1. GMM/GI/ITG-Fachtagung
11
Verwendung von Gebietsarithmetiken zum Entwurf robuster Schaltungen und Systeme
Autoren:
Freisfeld, M.; Olbrich, M.; Grimm, C.; Barke, E.
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 1. GMM/GI/ITG-Fachtagung
12
Via-Array-Testchip, ein Verfahren zur Optimierung von Zuverlässigkeit und Qualität von CMOS-Bausteinen
Autoren:
Kohlert, Dieter; Holmer, Rainer
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 1. GMM/GI/ITG-Fachtagung
13
Zuverlässigkeitserhöhung mit funktionalen Monitoren
Autoren:
Eveking, H.; Schickel, M.; Braun, M.; Nimbler, V.
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 1. GMM/GI/ITG-Fachtagung