NEU E DIN EN IEC 62228-6 VDE 0847-28-6:2023-02

Integrierte Schaltungen – Bewertung der elektromagnetischen Verträglichkeit von Sende-Empfangsgeräten

Teil 6: PSI5-Transceiver

DIN EN IEC 62435-7 VDE 0884-135-7:2022-10

Elektronische Bauteile – Langzeitlagerung elektronischer Halbleiterbauelemente

Teil 7: Bauelemente der Mikrosystemtechnik

DIN EN IEC 62435-3 VDE 0884-135-3:2022-05

Elektronische Bauteile – Langzeitlagerung elektronischer Halbleiterbauelemente

Teil 3: Daten

DIN EN IEC 62228-3 VDE 0847-28-3:2020-02

Integrierte Schaltungen – Bewertung der elektromagnetischen Verträglichkeit von Sende-Empfangsgeräten

Teil 3: CAN-Sende-Empfangsgeräte

DIN EN IEC 62433-1 VDE 0847-33-1:2019-11

EMV-IC-Modellierung

Teil 1: Allgemeine Modellierungsstruktur

E DIN EN IEC 62228-7 VDE 0847-28-7:2019-10

Integrierte Schaltungen – Bewertung der elektromagnetischen Verträglichkeit von Sende-Empfangsgeräten

Teil 7: CXPI-Sende-Empfangsgeräte

DIN EN IEC 61967-1 VDE 0847-21-1:2019-09

Integrierte Schaltungen – Messung von elektromagnetischen Aussendungen

Teil 1: Allgemeine Bedingungen und Definitionen

E DIN EN IEC 62228-5 VDE 0847-28-5:2019-09

Integrierte Schaltungen – Bewertung der elektromagnetischen Verträglichkeit von Sende-Empfangsgeräten

Teil 5: Ethernet-Sende-Empfangsgerät

E DIN EN IEC 61967-4 VDE 0847-21-4:2019-06

Integrierte Schaltungen – Messung von elektromagnetischen Aussendungen

Teil 4: Messung von leitungsgeführten Aussendungen – Messung mit direkter 1-Ohm-/150-Ohm-Kopplung

DIN EN IEC 62435-4 VDE 0884-135-4:2019-05

Elektronische Bauteile – Langzeitlagerung elektronischer Halbleiterbauelemente

Teil 4: Lagerung

DIN EN IEC 62435-6 VDE 0884-135-6:2019-04

Elektronische Bauteile – Langzeitlagerung elektronischer Halbleiterbauelemente

Teil 6: Bauelemente in Gehäusen oder fertiggestellte Bauelemente

DIN EN IEC 62228-1 VDE 0847-28-1:2018-12

Integrierte Schaltungen – Bewertung der elektromagnetischen Verträglichkeit von Sende-Empfangsgeräten

Teil 1: Allgemeine Bedingungen und Festlegungen

E DIN EN 62433-6 VDE 0847-33-6:2017-11

EMV-IC-Modellierung

Teil 6: Modelle integrierter Schaltungen für die Simulation des Verhaltens bei Störfestigkeit gegen Impulse – Modellierung der Störfestigkeit gegen leitungsgeführte Impulse (ICIM-CPI)

DIN EN 62433-2 VDE 0847-33-2:2017-10

EMV-IC-Modellierung

Teil 2: Modelle integrierter Schaltungen für die Simulation des Verhaltens bei elektromagnetischer Beeinflussung – Modellierung leitungsgeführter Aussendungen (ICEM-CE)

DIN EN 62433-3 VDE 0847-33-3:2017-10

EMV-IC-Modellierung

Teil 3: Modelle integrierter Schaltungen für die Simulation des Verhaltens bei elektromagnetischer Beeinflussung – Modellierung von abgestrahlten Aussendungen (ICEM-RE)

DIN EN 62435-1 VDE 0884-135-1:2017-10

Elektronische Bauteile – Langzeitlagerung elektronischer Halbleiterbauelemente

Teil 1: Allgemeines

DIN EN 62435-2 VDE 0884-135-2:2017-10

Elektronische Bauteile – Langzeitlagerung elektronischer Halbleiterbauelemente

Teil 2: Schädigungsmechanismen

DIN EN 62435-5 VDE 0884-135-5:2017-10

Elektronische Bauteile – Langzeitlagerung elektronischer Halbleiterbauelemente

Teil 5: Chip- und Wafererzeugnisse

DIN EN 62228-2 VDE 0847-28-2:2017-09

Integrierte Schaltungen – Bewertung der elektromagnetischen Verträglichkeit von Sende-Empfangsgeräten

Teil 2: LIN-Sende-Empfangsgeräte

DIN EN 62433-4 VDE 0847-33-4:2017-05

EMV-IC-Modellierung

Teil 4: Modelle integrierter Schaltungen für die Simulation des Verhaltens der HF-Störfestigkeit – Modellierung der Störfestigkeit gegen leitungsgeführte Störungen (ICIM-CI)