Norm-Entwurf:
NEU E DIN EN IEC 62228-6 VDE 0847-28-6:2023-02Integrierte Schaltungen – Bewertung der elektromagnetischen Verträglichkeit von Sende-Empfangsgeräten Teil 6: PSI5-Transceiver |
Norm:
DIN EN IEC 62435-7 VDE 0884-135-7:2022-10Elektronische Bauteile – Langzeitlagerung elektronischer Halbleiterbauelemente Teil 7: Bauelemente der Mikrosystemtechnik |
Norm:
DIN EN IEC 62435-3 VDE 0884-135-3:2022-05Elektronische Bauteile – Langzeitlagerung elektronischer Halbleiterbauelemente Teil 3: Daten |
Norm:
DIN EN IEC 62228-3 VDE 0847-28-3:2020-02Integrierte Schaltungen – Bewertung der elektromagnetischen Verträglichkeit von Sende-Empfangsgeräten Teil 3: CAN-Sende-Empfangsgeräte |
Norm:
DIN EN IEC 62433-1 VDE 0847-33-1:2019-11EMV-IC-Modellierung Teil 1: Allgemeine Modellierungsstruktur |
Norm-Entwurf:
E DIN EN IEC 62228-7 VDE 0847-28-7:2019-10Integrierte Schaltungen – Bewertung der elektromagnetischen Verträglichkeit von Sende-Empfangsgeräten Teil 7: CXPI-Sende-Empfangsgeräte |
Norm:
DIN EN IEC 61967-1 VDE 0847-21-1:2019-09Integrierte Schaltungen – Messung von elektromagnetischen Aussendungen Teil 1: Allgemeine Bedingungen und Definitionen |
Norm-Entwurf:
E DIN EN IEC 62228-5 VDE 0847-28-5:2019-09Integrierte Schaltungen – Bewertung der elektromagnetischen Verträglichkeit von Sende-Empfangsgeräten Teil 5: Ethernet-Sende-Empfangsgerät |
Norm-Entwurf:
E DIN EN IEC 61967-4 VDE 0847-21-4:2019-06Integrierte Schaltungen – Messung von elektromagnetischen Aussendungen Teil 4: Messung von leitungsgeführten Aussendungen – Messung mit direkter 1-Ohm-/150-Ohm-Kopplung |
Norm:
DIN EN IEC 62435-4 VDE 0884-135-4:2019-05Elektronische Bauteile – Langzeitlagerung elektronischer Halbleiterbauelemente Teil 4: Lagerung |
Norm:
DIN EN IEC 62435-6 VDE 0884-135-6:2019-04Elektronische Bauteile – Langzeitlagerung elektronischer Halbleiterbauelemente Teil 6: Bauelemente in Gehäusen oder fertiggestellte Bauelemente |
Norm:
DIN EN IEC 62228-1 VDE 0847-28-1:2018-12Integrierte Schaltungen – Bewertung der elektromagnetischen Verträglichkeit von Sende-Empfangsgeräten Teil 1: Allgemeine Bedingungen und Festlegungen |
Norm-Entwurf:
E DIN EN 62433-6 VDE 0847-33-6:2017-11EMV-IC-Modellierung Teil 6: Modelle integrierter Schaltungen für die Simulation des Verhaltens bei Störfestigkeit gegen Impulse – Modellierung der Störfestigkeit gegen leitungsgeführte Impulse (ICIM-CPI) |
Norm:
DIN EN 62433-2 VDE 0847-33-2:2017-10EMV-IC-Modellierung Teil 2: Modelle integrierter Schaltungen für die Simulation des Verhaltens bei elektromagnetischer Beeinflussung – Modellierung leitungsgeführter Aussendungen (ICEM-CE) |
Norm:
DIN EN 62433-3 VDE 0847-33-3:2017-10EMV-IC-Modellierung Teil 3: Modelle integrierter Schaltungen für die Simulation des Verhaltens bei elektromagnetischer Beeinflussung – Modellierung von abgestrahlten Aussendungen (ICEM-RE) |
Norm:
DIN EN 62435-1 VDE 0884-135-1:2017-10Elektronische Bauteile – Langzeitlagerung elektronischer Halbleiterbauelemente Teil 1: Allgemeines |
Norm:
DIN EN 62435-2 VDE 0884-135-2:2017-10Elektronische Bauteile – Langzeitlagerung elektronischer Halbleiterbauelemente Teil 2: Schädigungsmechanismen |
Norm:
DIN EN 62435-5 VDE 0884-135-5:2017-10Elektronische Bauteile – Langzeitlagerung elektronischer Halbleiterbauelemente Teil 5: Chip- und Wafererzeugnisse |
Norm:
DIN EN 62228-2 VDE 0847-28-2:2017-09Integrierte Schaltungen – Bewertung der elektromagnetischen Verträglichkeit von Sende-Empfangsgeräten Teil 2: LIN-Sende-Empfangsgeräte |
Norm:
DIN EN 62433-4 VDE 0847-33-4:2017-05EMV-IC-Modellierung Teil 4: Modelle integrierter Schaltungen für die Simulation des Verhaltens der HF-Störfestigkeit – Modellierung der Störfestigkeit gegen leitungsgeführte Störungen (ICIM-CI) |