Norm:
DIN EN 62435-5 VDE 0884-135-5:2017-10Elektronische Bauteile – Langzeitlagerung elektronischer Halbleiterbauelemente Teil 5: Chip- und Wafererzeugnisse |
Norm:
DIN EN 62228-2 VDE 0847-28-2:2017-09Integrierte Schaltungen – Bewertung der elektromagnetischen Verträglichkeit von Sende-Empfangsgeräten Teil 2: LIN-Sende-Empfangsgeräte |
Norm:
DIN EN 62433-4 VDE 0847-33-4:2017-05EMV-IC-Modellierung Teil 4: Modelle integrierter Schaltungen für die Simulation des Verhaltens der HF-Störfestigkeit – Modellierung der Störfestigkeit gegen leitungsgeführte Störungen (ICIM-CI) |
Norm:
DIN EN 62132-1 VDE 0847-22-1:2016-09Integrierte Schaltungen – Messung der elektromagnetischen Störfestigkeit Teil 1: Allgemeine Bedingungen und Begriffe |
Norm:
DIN IEC/TS 61967-3 VDE V 0847-21-3:2015-08Integrierte Schaltungen – Messung von elektromagnetischen Aussendungen Teil 3: Messung der abgestrahlten Aussendungen – Verfahren der Oberflächenabtastung |
Norm:
DIN IEC/TS 62132-9 VDE V 0847-22-9:2015-08Integrierte Schaltungen – Messung der elektromagnetischen Störfestigkeit Teil 9: Messung der Störfestigkeit bei Einstrahlungen – Verfahren der Oberflächenabtastung |
Norm:
DIN EN 62215-3 VDE 0847-23-3:2014-04Integrierte Schaltungen – Messung der Störfestigkeit gegen Impulse Teil 3: Asynchrones Transienteneinspeisungs-Verfahren |
Norm:
DIN EN 62132-8 VDE 0847-22-8:2013-03Integrierte Schaltungen – Messung der elektromagnetischen Störfestigkeit Teil 8: Messung der Störfestigkeit bei Einstrahlungen – IC-Streifenleiterverfahren |
Norm:
DIN EN 62132-2 VDE 0847-22-2:2011-07Integrierte Schaltungen – Messung der elektromagnetischen Störfestigkeit Teil 2: Messung der Störfestigkeit bei Einstrahlungen – TEM-Zellen- und Breitband-TEM-Zellenverfahren |