1
A new physics-based NBTI model for DC-and AC-stress enabling accurate circuit aging simulations considering recovery
Autoren:
Schlünder, Christian; Reisinger, Hans; Gustin, Wolfgang; Grasser, Tibor
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 5. GI/GMM/ITG-Fachtagung
2
A Robust Approach to Reliability Hotspot Detection
Autoren:
Melzner, Hanno; Georgakos, Georg; Hommel, Martina; Gustin, Wolfgang
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 5. GI/GMM/ITG-Fachtagung
3
Analysis of Failure Detection Methods in Automotive Data Transmission Networks
Autoren:
Trombetti, Daniela; Frei, Stephan; Hell, Magnus Maria; Metzner, Dieter
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 5. GI/GMM/ITG-Fachtagung
4
Automating Software Tool Qualification for Design and Test of Safety-Critical Systems
Autoren:
Izosimov, Viacheslav
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 5. GI/GMM/ITG-Fachtagung
5
Dependable Computing and Assessment of Dependability
Autoren:
Arlat, Jean; Arlat, Jean
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 5. GI/GMM/ITG-Fachtagung
6
Eine Methodik zur Analyse erhöhter Beanspruchungen von Halbleiterkomponenten und deren AVT hinsichtlich geänderter Anforderungen im Automobil
Autoren:
Hahn, Daniel; Straube, Stefan; Middendorf, Andreas; Lochner, Helmut; Abelein, Ulrich; Lang, Klaus-Dieter
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 5. GI/GMM/ITG-Fachtagung
7
Eine neuartige Device-Array Teststruktur für statistische Untersuchungen von Degradations- und Relaxationseffekten
Autoren:
Schlünder, C.; Berthold, J. M.; Hoffmann, M.; Gustin, W.; Reisinger, H.
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 5. GI/GMM/ITG-Fachtagung
8
Eingebetteter Test zur hochgenauen Defekt-Lokalisierung
Autoren:
Mumtaz, Abdullah; Imhof, Michael E.; Holst, Stefan; Wunderlich, Hans-Joachim
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 5. GI/GMM/ITG-Fachtagung
9
Evaluation of Switch-to-Switch Header Flit Protection Schemes in Networks-on-Chip
Autoren:
Gag, Martin; Gorski, Philipp; Wegner, Tim; Timmermann, Dirk
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 5. GI/GMM/ITG-Fachtagung
10
ExtraTime: A Framework for Exploration of Clock and Power Gating for BTI and HCI Aging Mitigation
Autoren:
Oboril, Fabian; Tahoori, Mehdi B.
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 5. GI/GMM/ITG-Fachtagung
11
Fast and Accurate Soft Error Rate Estimation at RTL level
Autoren:
Chen, Liang; Firouzi, Farshad; Kiamehr, Saman; Tahoori, Mehdi B.
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 5. GI/GMM/ITG-Fachtagung
12
Fehlertolerantes differentielles Q-Routing für On-Chip-Verbindungsnetzwerke mit beliebiger Topologie
Autoren:
Radetzki, Martin
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 5. GI/GMM/ITG-Fachtagung
13
Hochoptimierter Ablauf zur Robustheitsprüfung
Autoren:
Frehse, Stefan; Haedicke, Finn; Diepenbeck, Melanie; Fey, Görschwin; Drechsler, Rolf
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 5. GI/GMM/ITG-Fachtagung
14
Kombinierte Codes mit nichtlinearen Prüfbits
Autoren:
Nieß, Günther; Sogomonyan, Egor; Gössel, Michael; Kern, Thomas; Rabenalt, Thomas
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 5. GI/GMM/ITG-Fachtagung
15
Korrektur transienter Fehler in eingebetteten Speicherelementen
Autoren:
Imhof, Michael E.; Wunderlich, Hans-Joachim
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 5. GI/GMM/ITG-Fachtagung
16
Mehrstufig kalibrierbare temperaturstabile Referenz
Autoren:
Gruber, Dominik; Hilber, Gerald; Ostermann, Timm
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 5. GI/GMM/ITG-Fachtagung
17
Recently updated FIDES 2009 reliability prediction standard compared to FIDES 2004 and others for realistic failure rates of electronic parts required for quantitative Safety Analysis
Autoren:
Hoppe, Wolfgang; Hoppe, Martin
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 5. GI/GMM/ITG-Fachtagung
18
Reduction of Thermal Imbalances and Hot Spots in Networks-on-Chip Using Proactive Temperature Management
Autoren:
Wegner, Tim; Gag, Martin; Timmermann, Dirk; Uhrmacher, Adelinde
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 5. GI/GMM/ITG-Fachtagung
19
Rekonfigurierbare Logik für Ausbeute-Optimierung und Verschleiß-Kompensation
Autoren:
Koal, Tobias; Beck, Matthias-Stephan; Vierhaus, Heinrich. T.
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 5. GI/GMM/ITG-Fachtagung
20
Robuster Selbsttest mit Diagnose
Autoren:
Cook, Alejandro; Hellebrand, Sybille; Indlekofer, Thomas; Wunderlich, Hans-Joachim
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 5. GI/GMM/ITG-Fachtagung