1
A Defect Oriented Circuit Simulation Approach Applied to D-RAM Designs
Autoren:
Versen, Martin; Kneževic, Jelena; Montoya, Sergio M.; Vermeiren, Wolfgang; Coym, Torsten; Straube, Bernd
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 1. GMM/GI/ITG-Fachtagung
2
A Pseudo-Random Data Generator for Program-Based DDR DRAM BIST with Custom Defined Testing Algorithms
Autoren:
Li, Hongzhi
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 1. GMM/GI/ITG-Fachtagung
3
Applikationsspezifische Zuverlässigkeitsbewertung von Multiprocessor Systems-on-Chip auf Systemebene
Autoren:
Sander, Björn; Bringmann, Oliver; Schönwald, Timo; Schnerr, Jürgen; Rosenstiel, Wolfgang; Rosenstiel, Wolfgang
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 1. GMM/GI/ITG-Fachtagung
4
Autonomic MPSoCs for Reliable Systems
Autoren:
Stechele, Walter; Bringmann, Oliver; Ernst, Rolf; Herkersdorf, Andreas; Hojenski, Katharina; Janacik, Peter; Rammig, Franz; Teich, Jürgen; Wehn, Norbert; Zeppenfeld, Johannes; Ziener, Daniel
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 1. GMM/GI/ITG-Fachtagung
5
Design for Manufacturing and Yield: Trends in the Semiconductor Industry
Autoren:
Bühler, Markus; Hibbeler, Jason
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 1. GMM/GI/ITG-Fachtagung
6
Ein formaler Ansatz zum Robustheitsnachweis
Autoren:
Fey, Görschwin; Drechsler, Rolf
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 1. GMM/GI/ITG-Fachtagung
7
Ein kostenbegrenzter Ansatz zur Reduktion der transienten Fehlerrate
Autoren:
Polian, Ilia; Hayes, John P.; Nowroth, Damian; Becker, Bernd
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 1. GMM/GI/ITG-Fachtagung
8
Ein makrobasierter Ansatz zur Verbesserung der Ausbeute in der Produktion von FPGAs
Autoren:
Frimont, Sven; Nebel, Wolfgang
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 1. GMM/GI/ITG-Fachtagung
9
Ein Verfahren zur Analyse der Prozessschwankungen für nichtlineare Schaltungen mit nicht-Gauss-verteilten Parametern
Autoren:
Zhang, M.; Olbrich, M.; Seider, D.; Frerichs, M.; Kinzelbach, H.; Barke, E.
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 1. GMM/GI/ITG-Fachtagung
10
Erhöhung der Ausbeute durch robuste Verdrahtungsnetzwerke
Autoren:
Panitz, P.; Quiring, A.; Müller, H.-C.; Olbrich, M.; Koehl, J.; Barke, E.
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 1. GMM/GI/ITG-Fachtagung
11
Error Detection in Smartcards
Autoren:
Rüping, Stefan; Sigl, Georg
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 1. GMM/GI/ITG-Fachtagung
12
Failure Analysis of Soft Defects: Test and Localization Strategies
Autoren:
Burmer, Christian; Brillert, Christof; Qian, Zhongling
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 1. GMM/GI/ITG-Fachtagung
13
Fehlererkennung mit Fehlerkorrektur für Soft Errors
Autoren:
Sogomonyan, Egor S.; Marienfeld, Daniel; Gössel, Michael
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 1. GMM/GI/ITG-Fachtagung
14
Feldprogrammierbare Gatterlogik für zuverlässigen HF-Transceiver- und Mixed-Signal-Test
Autoren:
Koren, Ivo; Demmerle, Frank; May, Roland; Kaibel, Martin; Sattler, Sebastian
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 1. GMM/GI/ITG-Fachtagung
15
Formale Verifikation von SoC Protokollimplementierungen
Autoren:
Thalmaier, Max; Nguyen, Minh D.; Wedler, Markus; Stoffel, Dominik; Kunz, Wolfgang
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 1. GMM/GI/ITG-Fachtagung
16
Hochauflösende Jittermessung für nachhaltige Lieferqualität und Testkostenreduktion
Autoren:
Mejri, Jaafar; Kirmser, Stephane; Sattler, Sebastian
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 1. GMM/GI/ITG-Fachtagung
17
Mikrocontroller basierter Mixed-Signal Test
Autoren:
Mattes, H.; Kirmser, S.; Sattler, S.
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 1. GMM/GI/ITG-Fachtagung
18
Modellierung mit Guarded Transactions zum robusten Entwurf von Hardware-Software-Systemen in SystemC
Autoren:
Radetzki, Martin
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 1. GMM/GI/ITG-Fachtagung
19
Partieller Layout Flow zur Generierung von Auswahltabellen für Bussysteme
Autoren:
Birrer, Patrick; Chandrasekaran, Shankar J.; Wittmann, Reimund
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 1. GMM/GI/ITG-Fachtagung
20
Reparaturfunktionen für Bus-Strukturen auf SoCs
Autoren:
Kothe, R.; Vierhaus, H. T.
Konferenz:
Zuverlässigkeit und Entwurf - 1. GMM/GI/ITG-Fachtagung